CONFRONTO 340e - 382
Mappe a –200 V Yield: 74 % 340e 21 % Yield: 21 % 382
Mappe a -600V Yield 68%Yield 16%
Caratteristiche dirette
Electron mobility
Correnti inverse a –200V 10 Reverse leakage current at -200V (A) 10 Reverse leakage current at -200V (A)
Correnti inverse a -600V 10 Reverse leakage current at -600V (A) 10 Reverse leakage current at -600V (A)
Caratteristiche inverse
Disuniformità 382
Non si apprezzano differenze significative nelle caratteristiche dirette al variare della concentrazione di drogante
Correlazione tra intensità di corrente e difetti
Non si notano correlazioni evidenti tra le caratteristiche dirette e le concentrazioni di drogante
Breakdown
Barrier height vs ideality factor
Richardson plot
Dopant concentration
Diode area forward characteristics
Diode area reverse characteristics
382 diode n. 307
382 diode n. 343