CONFRONTO 340e - 382. Mappe a –200 V Yield: 74 % 340e 21 % Yield: 21 % 382.

Slides:



Advertisements
Presentazioni simili
La giunzione pn giunzione elettrone lacuna ione + (DONATORE) ione –
Advertisements

Flusso Massimo Applicazione di algoritmi
La versione mobile del sito
L’umidità atmosferica
Il ciclo provinciale dei rifiuti urbani e assimilati dal 1998 al 2004 e lattuazione del Piano Provinciale 21 febbraio 2005 Massimiliano Di Mattia Agenzia.
Il mercato dellICT in Italia nel 1° semestre settembre 2003 – Slide 0 Il mercato dellICT in Italia nel 1° semestre 2003 Conferenza Stampa Assinform.
Il mercato dellICT in Italia nel 1° semestre settembre 2003 – Slide 0 Il mercato dellICT in Italia nel 1° semestre 2003 Prof. Giancarlo Capitani.
ELETTRONE VERSO DESTRA = LACUNA VERSO SINISTRA
Elementi circuitali lineari: resistori  legge di Ohm  corrente
TECNOLOGIE DEL SILICIO
-1- I SOCI DELLA SEZIONE Bologna, 8 Ottobre 2010 Assemblea annuale AIP Sezione Psicologia per le organizzazioni.
IL CALCOLO DEL VAR: UN CONFRONTO FRA Metodi QUANTITATIVI 2a convention aifirm, milano, 8 marzo 2001 Prof. Paolo Giudici Università di Pavia
Anodo catodo.
Progetto MINNI Campagna di misure TRISAIA Serie storiche e altro Plenaria Progetto Minni Bologna,
Modeling air quality over Italy with MINNI atmospheric modeling system for 2005 Mihaela Mircea 1, Gino Briganti 2, Andrea Cappelletti 2, Anna Pederzoli.
Fotorivelatori Dispositivi che convertono un segnale ottico in segnale elettrico termopile bolometri cristalli piroelettrici basati su un effetto termico.
I processi di finanziamento e le fonti esterne di finanziamento
Metodo di misurazione dei parametri di un LASER
Ferrara in Italia INDAGINE SULLE PRINCIPALI 50 CITTA.
Targhette Polarizzate Attive ( Elettroni / Nuclei ) Fisica Neutrino e Violazioni Parita Fisica del neutrino e Interazioni che Violano Parita Targhette.
Il transistor.
ELETTRONE VERSO DESTRA = LACUNA VERSO SINISTRA
CIRCUITI ELETTRONICI ANALOGICI E DIGITALI
Il modello Unico 2007 La fiscalità differita A cura di Roberto Protani.
Dinamica dei portatori
Tecnologia del silicio
DETERMINATION OF THE CRITICAL MICELLE CONCENTRATION (cmc) OF SDS
Leggi di scala per i coefficienti di assorbimento
i TIRISTORI Contrariamente ai transistor
Energia solare fotovoltaica
Giorgio SPINOLO – Scienza dei Materiali - 6 marzo / 19 aprile 2007 – Corsi ordinari IUSS I semiconduttori Il drogaggio dei semiconduttori La giunzione.
Corso Fisica dei Dispositivi Elettronici Leonello Servoli 1 Circuito Invertitore (1) Implementazione della funzione NOT in logica positiva V(1) = 12 Volts.
Corso Fisica dei Dispositivi Elettronici Leonello Servoli 1 Trasporto dei portatori (1) Moto di elettroni in un cristallo senza (a) e con (b) campo elettrico.
Corso Fisica dei Dispositivi Elettronici Leonello Servoli 1 I Transistori I transistor sono dispositivi con tre terminali sviluppati dal I tre terminali.
Corso Fisica dei Dispositivi Elettronici Leonello Servoli 1 Retta di carico (1) La retta dipende solo da entità esterne al diodo.
Corso Fisica dei Dispositivi Elettronici Leonello Servoli 1 Temperatura ed Energia Cinetica (1) La temperatura di un corpo è legata alla energia cinetica.
Struttura MIS (Metallo-Isolante-Semiconduttore)
Fisica 2 15° lezione.
ASCOLTI TOTALE TV SATELLITE ANALISI SULLULTIMO ANNO MOBILE Marzo 2007 – Febbraio 2008 vs. Marzo 2006 – Febbraio 2007.
Funzionamento ed applicazioni
Il Diodo.
G.Raciti –Dip. Fisica& Astronomia –Univ. Catania & INFN – Otranto 2005 FASCI RADIOATTIVI (Esotici) Particelle o ioni instabili prodotti artificialmente(
GENERATORE FOTOVOLTAICO
BML-D 001 Monitoring Paolo Iengo Atlas RPC Group Napoli ( M. Alviggi, V. Canale, M. Caprio, G. Carlino, F. Conventi, R. de Asmundis, M.Della Pietra, D.
Settimana: 3-7 marzo Orariolunedimartedi Mercoledi 5 Giovedi 6 Venerdi lezione intro alla fis mod DR lezione intro alla fis mod DR.
Risultati degli irraggiamenti con neutroni e protoni Annunziata Sanseverino Università degli Studi di Cassino e del Lazio Meridionale.
SMART 300+ TC500 Top 400 Minuti Numero Preferito Spesa mensile per i primi 12 mesi in MNP Spesa mensile con iPhone Minuti senza limiti 500 verso tutti.
Status progetto al 27/05/2005 Processi di deposizione Processo STD (SiH 4 +C 2 H 4 ) Processo con HCl (SiH 4 +C 2 H 4 +HCl) Processo con TCS (TCS +C 2.
Statistica economica (6 CFU) Corso di Laurea in Economia e Commercio a.a Docente: Lucia Buzzigoli Lezione 4 1.
Trento, agosto 2013 Provincia Autonoma di Trento Piano di miglioramento ed efficientamento Incontro con i sindacati.
Funzionamento ed applicazioni
Università degli Studi di Pavia
Production of 8x8 SiPM matrices
SIT – Sistema Informativo Trapianti. * Dati preliminari al 31 Ottobre 2012 PMP Decessi con accertamento neurologico Attività di donazione 2000 – 2012*
SIT – Sistema Informativo Trapianti. PMP Decessi con accertamento neurologico Attività di donazione 2000 – 2012* FONTE DATI: Dati Reports * Dati preliminari.
Outline Chuck Karl Suss: problematiche sperimentali e loro soluzione.
Risultati preliminari diodi Schottky F. La Via, G. Galvagno, A. Firrincieli, F. Roccaforte, S. Di Franco.
LM Fisica A.A.2013/14Fisica dei Dispositivi a Stato Solido - F. De Matteis Conduttori metallici I metalli costituiscono le interconnessioni tra i diversi.
Giunzioni p-n. Diodo Il drogaggio di un semiconduttore altera drasticamente la conducibilità. Ma non basta, è “statico” ... Cambiare secondo le necessità.
"We firmly believe that the on-the-run issues should command a high liquidity premium in the current environment. But with very high probability, the.
Atti persecutori – delitti commessi (dal 23 febbraio) Fonte:Direzione.
Le potenze.
Radiotecnica 3 Semiconduttori
Laurea Ing EO/IN/BIO;TLC D.U. Ing EO 4
Corso di recupero di Fondamenti di Elettronica – Università di Palermo
Università di Napoli Federico II Titolo dell’esperienza: Misura della caratteristica corrente-tensione di una giunzione tunnel superconduttiva di tipo.
Il livello analogico digitale Semiconduttori Dispositivi a semiconduttore.
Lo stato solido 1. Semiconduttori.
Richiami sul transistore MOS
Supplementi BJT Le slides seguenti sono solamente un supporto al testo, e non una dispensa autonoma. Sono soprattutto orientati a chiarire alcuni passaggi.
Transcript della presentazione:

CONFRONTO 340e - 382

Mappe a –200 V Yield: 74 % 340e 21 % Yield: 21 % 382

Mappe a -600V Yield 68%Yield 16%

Caratteristiche dirette

Electron mobility

Correnti inverse a –200V 10 Reverse leakage current at -200V (A) 10 Reverse leakage current at -200V (A)

Correnti inverse a -600V 10 Reverse leakage current at -600V (A) 10 Reverse leakage current at -600V (A)

Caratteristiche inverse

Disuniformità 382

Non si apprezzano differenze significative nelle caratteristiche dirette al variare della concentrazione di drogante

Correlazione tra intensità di corrente e difetti

Non si notano correlazioni evidenti tra le caratteristiche dirette e le concentrazioni di drogante

Breakdown

Barrier height vs ideality factor

Richardson plot

Dopant concentration

Diode area forward characteristics

Diode area reverse characteristics

382 diode n. 307

382 diode n. 343