Strumentazione e caratterizzazione dei materiali e dei dispositivi Mauro Mosca (www.dieet.unipa.it/tfl/people) A.A. 2014-15 Università di Palermo – Facoltà di Ingegneria (DEIM) Università di Palermo – Facoltà di Ingegneria (DEIM)
Amplificatore Lock-in Misura resistenza di contatto Diffrattometro a raggi X
Amplificatore Lock-in
Amplificatore Lock-in
Amplificatore Lock-in
Amplificatore Lock-in Example of noise spectrum
Amplificatore Lock-in
Amplificatore Lock-in
Chopper
Amplificatore Lock-in e chopper
Resistenza di contatto
Resistenza di contatto. Geometria laterale
Resistenza di contatto. Definizione
Transmission Line Method (TLM)
Transmission Line Method (TLM)
Transmission Line Method (TLM)
Transmission Line Method (TLM)
Diffrazione a raggi X (XRD) (bremsstrahlung) interazione tra fascio di elettroni e target metallico
Diffrazione a raggi X (XRD)
Diffrazione a raggi X (XRD)
Diffrazione a raggi X (XRD): Legge di Bragg
Diffrazione a raggi X (XRD): metodi Metodo di Laue (q costante, l variabile) - Metodo delle polveri (l costante, q variabile) anche per film policristallini
Diffrazione a raggi X (XRD): diffrattometro (solidale con la fenditura)
Diffrazione a raggi X (XRD): diffrattometro alla Bragg-Brentano
Diffrazione a raggi X (XRD): q-2q scan
Diffrazione a raggi X (XRD): texture e mosaicità (w-scan) Si fissa l’angolo 2q e si effettua una scansione in w Si può così conoscere la ripartizione dei piani angolari così osservati rocking curve larga in caso di forte disorientazione dei piani cristallini (bassa texture) grani ad orientazione parallela al substrato risultano disorientati l’uno rispetto all’altro frazione volumetrica del cristallo che presenta orientazione non-random orientazione preferenziale (o texture) FWHM La mosaicità NON è rivelabile con la rocking curve!
Diffrazione a raggi X (XRD): w-scan q-2q-scan w-scan (rocking curve)
Diffrazione a raggi X (XRD): goniometro a 4 cerchi (f-scan)
Diffrazione a raggi X (XRD): f-scan Figura dei poli
allargamento dovuto alla dimensione dei grani Diffrazione a raggi X (XRD): legge di Scherrer: Deformazioni reticolari legge di Scherrer allargamento dovuto alla dimensione dei grani cristalliti