Sezione INFN PG - 12 Luglio PROGETTO SMART (Structures and Materials for Advanced Radiation Hard Trackers – Gruppo 5) SEZIONI INFN COINVOLTE: +FI (Bruzzi) – responsabile nazionale +BA (Creanza) + PG (Pignatel) + PI (Messineo) + IRST-TN (Boscardin) Altre collaborazioni: PD (Candelori) + TS (Bosisio) + MI () + CERN (RD50)

Sezione INFN PG - 12 Luglio OBIETTIVI GLOBALI ( ): Studio del danno da radiazione in rivelatori al Si Sviluppo di nuovi rivelatori Rad-Hard OBIETTIVI (PG ): Studio del danno da radiazione in rivelatori al Si di tipo n assottigiati, epitassiali e ossigenati Risultati ottenuti: F.Moscatelli et al.Comprehensive dev. simulation modeling of heavily irradiated Si detectors at cryo Temp., IEEE TNS 51 (2004) M.Petasecca et al.Analysis and simulation of Charge Collection Efficiency in Silicon thin detectors, Proceedings IWORID PROGETTO SMART – G5

Sezione INFN PG - 12 Luglio Risultati ottenuti: Simulazione della Vdep in funzione del flusso e della temperatura The data between 190K and 290K are well reproduced for all the considered fluences varying the capture cross sections as a function of the temperature F.Moscatelli et al.Comprehensive dev. simulation modeling of heavily irradiated Si detectors at cryo Temp., IEEE TNS 51 (2004) PROGETTO SMART – G5 Fig.: Variazione delle tensione di svuotamento con la temperatura per flussi di protons/cm 2 (a) e di protons/cm 2 (b). La traccia con i cerchi indica I dati sperimentali, con i quadri, i risultati delle simulazioni con il modello a tre livelli implementato in ISE-TCAD

Sezione INFN PG - 12 Luglio Risultati ottenuti: Simulazione delle prestazioni di diodi PAD assottigliati (Thin Detector) M.Petasecca et al.Analysis and simulation of Charge Collection Efficiency in Silicon thin detectors, NIM A Vol.546, Issue: 1-2 (2005), pp PROGETTO SMART – G5 Fig: Confronto tra le Tensioni di completo svuotamento per un diodo PAD con substrato di 58 e 300 µm al variare del flusso. Per un flusso di 2x10 14 n/cm 2 (1MeV equiv.) un diodo sottile ha una Vdep=14V, mentre il diodo spesso supera i 450V.

Sezione INFN PG - 12 Luglio PROGETTO SMART – G5 OBIETTIVI (PG ) Sviluppo di un modello di danno in silicio di tipo p che tenga conto dei seguenti parametri: 1)Energia dei livelli di intrappolamento (E i ) 2)Sezione durto ( i ) e tasso di introduzione ( i ) dei difetti 3)Tensione di massimo svuotamento (V dep ) 4)Corrente di perdita (I leak ) 5)Efficienza di raccolta della carica (CCE)

Sezione INFN PG - 12 Luglio PARTECIPANTI ALLESPERIMENTO (PG-2006) Giorgio U.Pignatel (P.O.)0.5 2.Marco Petasecca(Ass.)0.3 3.Nicola Cirulli(Bors.) Totale:1.5-FTE PROGETTO SMART – G5

Sezione INFN PG - 12 Luglio PROGETTO SMART – G5 RICHIESTA FINANZIARIA (PG ) Missioni interne2.0K Missioni estere4.0K Consumo2.0K Licenza SW (CAD)2.0K Totale:10.0K