6 luglio, 2006SLIM5: stato e preventivi SLIM5 Sviluppo di un sistema di tracciatura formato da rivelatori sottili a pixel CMOS attivi e a strip, con capacità di trigger di primo livello. Programma Triennale: Sezioni partecipanti: Bologna, Pavia/Bergamo, Pisa, Trento/PD, Trieste Obiettivo: Costruire un dimostratore di tracciatore di silicio sottile con capacità di trigger di livello 1, composto da –4 strati di moduli sottili ( um) di silicio a strisce –2 strati di rivelatori MAPS CMOS assottigliati a circa 100um –collegati a schede di memorie associative del tipo sviluppato dall'esperimento Fasttrack.

6 luglio, 2006SLIM5: stato e preventivi SLIM5 - Attività Attività organizzata in 5 WorkPackage 1.Pixel MAPS (G. Rizzo, PI) 2.Rivelatori su Si H.R. (L. Bosisio) - Strip singola faccia con JFET integrato, s=100/200um - Strip doppia faccia s=200um - Rivelatori a BJT 3.Elettronica di F-E (V. Re, BG) 4.Trigger e DAQ (PI/BO) 5.Meccanica, Integrazione, Test Beam (S. Bettarini, PI) MILESTONES WP2 Strip + JFET Set. 06Risultati dei test run PRIN2003 (JD5 pronto, JD6 entro 2005) Dic. 06Design run Strip+JFET (JD7) Scelta e acquisizione chip di F- E Set. 07Risultati test run JD7 BJT Giu. 06Modello affidabile per prestazioni BJT (Misure BD1 + Simulazioni) Set. 06Design run BJT (BD2) Giu. 07Risultati test run BD2 2008: Integrazione e Test Beam

6 luglio, 2006SLIM5: stato e preventivi SLIM5/TS - Attività 2006 in corso Rivelatori a Strip+JFET: Test di caratterizzazione statica dei dispositivi Test funzionali con elettronica disponibile in sede (canale singolo e chip VA2TA a 128 canali) Partecipazione al progetto del lotto JD7 Layout lotto JD6 Caratteristica dingresso JFET

6 luglio, 2006SLIM5: stato e preventivi SLIM5/TS - Attività 2006 in corso Rivelatori con amplificazione integrata tramite BJT: Analisi e simulazioni del modello del rivelatore con BJT integrato Test di caratterizzazione statica dei dispositivi del lotto BD1 Misure funzionali con sorgente X Partecipazione al progetto del lotto BD2 ΔtΔt 2μs 5mV Trigger level 60keV pulse Integr. interval 60keV Singolo impulso e spettro di raggi X da 241 Am 50x200µm 2 Base (area attiva) Punch- Through contact Emitter Layout di dispositivo di piccola area 0

6 luglio, 2006SLIM5: stato e preventivi SLIM5/TS - Attività 2006 in corso Rivelatori con amplificazione integrata tramite BJT: Analisi e simulazioni del modello del rivelatore con BJT integrato Test di caratterizzazione statica dei dispositivi del lotto BD1 Misure funzionali con sorgenti X e beta Partecipazione al progetto del lotto BD2 Singolo impulso e spettro di raggi X da 241 Am ΔtΔt 2μs 5mV Trigger level 60keV pulse Integr. interval 60keV0 Guadagno in corrente vs. corrente di base per due diverse dimensioni dellemettitore

6 luglio, 2006SLIM5: stato e preventivi SLIM5/TS - Preventivo e Attività 2007 Attività Trieste Rivelatori a Strip+JFET: Test funzionali con elettronica disponibile in sede Test di irraggiamento presso Elettra Partecipazione al progetto del lotto JD7 Rivelatori a BJT: Analisi e simulazioni del modello del rivelatore Partecipazione al progetto del lotto BD2 Telescopio per test beam: Assemblaggio Test funzionali con elettronica FE FSSR2 Persone (1.4 FTE) L. BosisioPA 20% G. GiacominiDott. 60% L. LanceriPS 30% Resp. L. I. Rashevskaia contr. 20% L. Vitale RU 30% Richieste finanziarie (k) M.I. 3 M.E. 2 Consumo21 –Elettronica FE16 –Meccanica 2 –Laboratorio + licenze 3 Totale26 Richieste Risorse Locali Lab. Elettronica4 m.u. Officina Mecc.2 m.u.