Strumentazione e caratterizzazione dei materiali e dei dispositivi

Presentazione sul tema: "Strumentazione e caratterizzazione dei materiali e dei dispositivi"— Transcript della presentazione:

1 Strumentazione e caratterizzazione dei materiali e dei dispositivi
Mauro Mosca ( A.A Università di Palermo – Facoltà di Ingegneria (DEIM) Università di Palermo – Facoltà di Ingegneria (DEIM)

2 Amplificatore Lock-in
Misura resistenza di contatto Diffrattometro a raggi X

3 Amplificatore Lock-in

4 Amplificatore Lock-in

5 Amplificatore Lock-in

6 Amplificatore Lock-in
Example of noise spectrum

7 Amplificatore Lock-in

8 Amplificatore Lock-in

9 Chopper

10 Amplificatore Lock-in e chopper

11 Resistenza di contatto

12 Resistenza di contatto. Geometria laterale

13 Resistenza di contatto. Definizione

14 Transmission Line Method (TLM)

15 Transmission Line Method (TLM)

16 Transmission Line Method (TLM)

17 Transmission Line Method (TLM)

18 Diffrazione a raggi X (XRD)
(bremsstrahlung) interazione tra fascio di elettroni e target metallico

19 Diffrazione a raggi X (XRD)

20 Diffrazione a raggi X (XRD)

21 Diffrazione a raggi X (XRD): Legge di Bragg

22 Diffrazione a raggi X (XRD): metodi
Metodo di Laue (q costante, l variabile) - Metodo delle polveri (l costante, q variabile) anche per film policristallini

23 Diffrazione a raggi X (XRD): diffrattometro
(solidale con la fenditura)

24 Diffrazione a raggi X (XRD): diffrattometro alla Bragg-Brentano

25 Diffrazione a raggi X (XRD): q-2q scan

26 Diffrazione a raggi X (XRD): texture e mosaicità (w-scan)
Si fissa l’angolo 2q e si effettua una scansione in w Si può così conoscere la ripartizione dei piani angolari così osservati rocking curve larga in caso di forte disorientazione dei piani cristallini (bassa texture) grani ad orientazione parallela al substrato risultano disorientati l’uno rispetto all’altro frazione volumetrica del cristallo che presenta orientazione non-random orientazione preferenziale (o texture) FWHM La mosaicità NON è rivelabile con la rocking curve!

27 Diffrazione a raggi X (XRD): w-scan
q-2q-scan w-scan (rocking curve)

28 Diffrazione a raggi X (XRD): goniometro a 4 cerchi (f-scan)

29 Diffrazione a raggi X (XRD): f-scan Figura dei poli

30 allargamento dovuto alla dimensione dei grani
Diffrazione a raggi X (XRD): legge di Scherrer: Deformazioni reticolari legge di Scherrer allargamento dovuto alla dimensione dei grani cristalliti