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PubblicatoGiorgia Giovannini Modificato 9 anni fa
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Pixel Status Report G. Darbo - INFN / Genova Roma, 23-24 Giugno 2003 ATLAS: Pixel Status Report Giugno 2003 Giovanni Darbo / INFN-Genova Email: Giovanni.Darbo@ge.infn.it Stato: Elettronica: FE-I2 & MCC-I2; Moduli: bump bonding, assemblaggio, test; Servizi: Regolatori, optolink, cavi; Meccanica: assemblaggio rivelatore; Milestone. Core. Copia della presentazione: http://www.ge.infn.it/ATLAS/PixelItalia/home.html
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Pixel Status Report G. Darbo - INFN / Genova Roma, 23-24 Giugno 2003 2 Stato del Rivelatore Optolink - PP0 Per 1/2 modulo Schema data link per un modulo Sensori: 600 tiles della CiS ricevuti e testati. La produzione di wafer della Tesla era stata bloccata per verificare la qualità dei sensori post irradiati. Il test eseguito su moduli al PS (maggio/giugno 2003) hanno mostrato che il noise e la corrente di leakage sono completamente comparabili con quelli della CiS. Optolink Passato (2/03) FDR degli optolink (optopackage, DORIC, VDC)
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Pixel Status Report G. Darbo - INFN / Genova Roma, 23-24 Giugno 2003 3 Stato del Rivelatore: Elettronica Passato FE-I FDR (8-9/10/02) e MCC FDR (10/10/02) Sottomessi FE-I2 (3/03) e MCC-I2+VDC+DORIC (4/03) in 2 engineering run: MCC-I2 engineering/production finanziata 4/03 Ricevuti wafer prodotti (FE-I2 il 14/5/03 e MCC-I2 il 6/6/03): Molte caratteristiche migliorate, ma… Entrambi i chip hanno un “difetto” che non ne permette l’uso nell’esperimento modifica e strategia. Implicazioni sul project plan.
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Pixel Status Report G. Darbo - INFN / Genova Roma, 23-24 Giugno 2003 4 FE-I2: Migliorie (testate) Threshold: Selezionabile con risoluzione di 7 bit in ciascun pixel (FE-I1 = 5 bit) risulata molto lineare, anche i 5 bit di soglia globale funzionano bene. La dispersione di soglia prima del tuning è 600-700 e (erano 900-1000 e nel FE-I1). Dopo il tuning la dispersione è di 25 e. Autotune: algoritmo implementato in hardware nel chip impiega 30 sec/modulo (invece di 2 ore tramite elettronica offline: TPLL/TPCC) e dà una dispersione di 50- 100e. Compensazione Bias La compensazione del bias funziona bene e corregge le disuniformità del FE-I1. Circuiti di monitoraggio (nuove implementazioni): Hit bus scaler per cercare “hot pixel” funziona correttamente; Circuito per programmare la latenza del self trigger ok. Irrobustimento SEU: Trigger FIFO con codifica Hamming, latches a tripla ridondanza, Hit Parity. Funzionano correttamente e andranno misurati in situazione d’alta intensità. Yield: Un wafer testato a Bonn ha dato 272/288 (=94%) di chip con tutti i registri funzionanti.
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Pixel Status Report G. Darbo - INFN / Genova Roma, 23-24 Giugno 2003 5 FE-I2: Bug Il FE-I2 ha sostituito flip-flop in parti critiche con componenti meno sensibili ad effetti SEU (Single Event Upset), ma molto più grandi (vedi confronto layout FE-I1/I2 dei registri). La distribuzione del clock non è sufficientemente accurata per una regione di alcuni mm. Clock skew violazioni di hold time nei shift register Il FE-I2 funziona correttamente a 1.6 V (ritardi > nei FF, no hold violation) Modifica (Steering Group) FE-I2.1: re-routing locale del clock modificando 3 maschere (M2-V2-M3) e usando 6 wafer ancora non metallizzati. Chiesta quotazione IBM (~87 k$). Simultaneamente ridisegno safe per clock skew FE-I3. FE-I2.1: fast, permette debugging FE-I3: potrebbe essere necessaria. 800 µm
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Pixel Status Report G. Darbo - INFN / Genova Roma, 23-24 Giugno 2003 6 MCC-I1 vs MCC-I2 No. of transistors: 660 k Dimensions: 6380 x 3980 m 2 No. of transistors: 880 k Dimensions: 6840 x 5140 m 2 Maggiore tolleranza ad effetti di Single Event Upset (SEU): Logica triplicata con decisione a maggioranza in molte parti critiche. Un SEU bit-flip in un FF del B-Layer ogni ~5÷10 s per MCC-I1 ad LHC. (Ref.: http://www.ge.infn.it/ATLAS/PixelWeek/Presentations/02-10-01_GG_SEU/02-10-01_GG_SEU.pdf) Correzione di difetti della precedente versione. Aggiunta di funzionalità sia per debug di sistema che per utilizzo operativo.
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Pixel Status Report G. Darbo - INFN / Genova Roma, 23-24 Giugno 2003 7 MCC-I2: Bug & Fixation Nell’MCC-I2 è stato commesso un errore che non permette di leggere le configurazione dei FE chips: Descrizione: MCC ha 3 modi operativi - Run, Configuration e Play Back. I primi 2 dovevano abilitare gli ingressi dei FE, invece solo Run mode lo fa! Un “if” sbagliato, inserito nella correzione di altri difetti, inserito nella fase finale del disegno e che è “scappato” nella verifica fatta simulando il chip. Soluzione: Abilitare sempre gli ingressi dei FE. Si può fare tagliando una linea e collegandola a VDD. Questa modifica richiede 1 maschera (M1) e l’utilizzo dei wafer che l’IBM ha tenuto senza processare le metallizzazioni (respin). Considerazioni: La modifica porta le specifiche dell’MCC molto vicine a quelle volute. L’MCC-I2 non ha problemi di timing come il FE-I2: metodologia di disegno -> correzione “tranquilla”. 6 wafer con lo yield misurato su quello testato (85%) sono sufficienti per tutta la produzione di 3 layer. Il costo ~1/2 di un engineering run (chiesta quotazione all’IBM si stima ~75k$)
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Pixel Status Report G. Darbo - INFN / Genova Roma, 23-24 Giugno 2003 8 Now optolink and MCC wafer “story” is decoupled (still not in the plan) Can this be anticipated? Nuova Pianificazione: Elettronica
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Pixel Status Report G. Darbo - INFN / Genova Roma, 23-24 Giugno 2003 9 Strategia FE/MCC, Pianificazione, Costo Nella nuova pianificazione si considera: MCC-I2.1 funziona correttamente FE-I necessita di un nuovo engineering run dopo FE-I2.1 Nuove milestone: FE-I2.1: Sottomissione 4/7/03, Arrivo 11/8/03, Test completo 8/9/03 FE-I3: Sottomissione 2/10/03, Arrivo 26/11/03 (Tempo FE-I3 >> FE-I2.1, FE-I2.1 // FE-I3 LBL +1 ingegnere per timing analysis, sottomissione dopo test MCC-I2.1) MCC-I2.1: Sottomissione 9/7/03, Arrivo 2/9/03, Test completo 11/11/03 Moduli: FE-I3 bump deposition 25/12/03, bare module 18/1/03, module assy/test 16/4/04, 60% moduli ready 5/12/05 La nuova schedula implica un ritardo nella consegna del rivelatore di 2 mesi. Il costo aggiuntivo INFN (quota INFN = 28.5%): 99 k$ FE-I2.1 = 87 k$ INFN = 25 k$ MCC-I2.1 = 75 k$ INFN = 21 k$ FE-I3 engineering run = 185 k$ INFN = 53 k$ FE-I3 2003 production (48 wafers) = 120 k$ -> INFN 34 k$ Totale 2003 = 99 k$ + 34 k$ = 133 k$
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Pixel Status Report G. Darbo - INFN / Genova Roma, 23-24 Giugno 2003 10 Preproduction shorter, production longer Xmas! Assumes 4w from wafer delivery 8w turnaround from wafers to dice 2m delay Nuova Pianificazione: Moduli
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Pixel Status Report G. Darbo - INFN / Genova Roma, 23-24 Giugno 2003 11 Stato del Rivelatore: Moduli e BB FDR e PRR passati nei mesi scorsi: Bare Module PRR (12/12/02). Pixel Module Assembly FDR (13/12/02). Gara bump bonding è completata: Permette la realizzazione di 1500 moduli AMS (finanziati INFN) e 600 IZM Risparmio 65 k€ (+IVA) sulla gara INFN (n.b. il programma 5% ha portato a un prodotto “competitivo”)
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Pixel Status Report G. Darbo - INFN / Genova Roma, 23-24 Giugno 2003 12 Produzione Moduli: DSM1 Produzione di moduli DSM-1 per: Verificare capacità di produzione ditte BB (IZM e AMS), e capacità di produzione dei laboratori Messa a punto e verifica resa di tutto il processo Qualifica moduli: irraggiamento, cicli termici,… Moduli per “System Test” di Dischi e Stave.
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Pixel Status Report G. Darbo - INFN / Genova Roma, 23-24 Giugno 2003 13 Sono state fatte prove con risultati positivi di re-working di moduli bump bondati sia IZM (SnPb) che IZM (In). Il reworking si dimostra importante per aumentare la resa finale di produzione. Reworked chips Reworking: AMS e IZM Venturi Vacum Pump Z-Axis Pickup tool with load cell Hot plate with Peltier cell X-Y stage Peltier Power supply Motion control IZM reworked Modulo Bonn-5 Tool per reworking In bump (AMS)
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Pixel Status Report G. Darbo - INFN / Genova Roma, 23-24 Giugno 2003 14 Power Supply “PP2 Box” Scheda di regolazione con regolatori rad-hard LHC-4913 della ST. 16 canali/scheda (1/2 stave - 7 x DVDD + 7 AVDD + 2 VDD optocard) Test con 12 m cavo Raydex: analisi spettrale e misure di noise su un modulo. Test irradiazione moduli al PS: regolatori in zona “calda” connessi a 7 moduli (test di sistema). In fase di produzione 3 stazioni PP2-box con 4 schede ciascuna per test di sistema su bi-stave (Bonn/GE/LBL). 200 regolatori comprati nel 2002 sono sufficienti per questi prototipi. Si chiede lo sblocco dei 50+6 k€. L’acquisto di tutti i regolatori necessario per fissare il loro prezzo.
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Pixel Status Report G. Darbo - INFN / Genova Roma, 23-24 Giugno 2003 15 Standard PS Regulators Non si notano differenze di prestazioni tra alimentatori standard e regolatori ST. 296e noise 302e noise Power Supply “PP2 Box” Test
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Pixel Status Report G. Darbo - INFN / Genova Roma, 23-24 Giugno 2003 16 Sistema Completo
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Pixel Status Report G. Darbo - INFN / Genova Roma, 23-24 Giugno 2003 17 Pixel Detector PP1 PP2 PP3 Located on the service platform. Only a preliminary layout exist. Tile Cal Lar Cal Beam Line Muon Chambers Cooling, Signal & Optical Readout Power and HV cables Type II - Twisted Pair Cables (~ 9 meters) Cryostat inner bore (PPF1) Power and HV cables Type III - Twisted Pair Cables (~ 140 meters) PP2 PP2 for cooling Z = 0 Voltage regulation box Routing dei Cavi e Patch Pannels
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Pixel Status Report G. Darbo - INFN / Genova Roma, 23-24 Giugno 2003 18 Cavi: Schedule, Finaziamenti La schedula di ATLAS richiede che i cavi all’interno del rivelatore siano pronti per installazione per l’estate 2004 (anticipata di 6 mesi) La gara e produzione dei cavi di tipo 2 è più lunga di quanto stimato in precedenza (~9 mesi) Si deve partire nel 2003 invece che il 2004. Per i cavi di tipo 3 l’Italia contribuisce solo parzialmente: Il costo aggiuntivo elettronica richiede verifica ( verrà fatta entro settembre) che i partner dispongano del resto dei fondi nel 2003.
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Pixel Status Report G. Darbo - INFN / Genova Roma, 23-24 Giugno 2003 19 Assembly e Test del Rivelatore Sono in fase di definizione finale e realizzazione i tools che permetteranno di passare dai singoli stave(/dischi) a doppi stave, half shell, full shell e infine a rivelatore completo (vedi documento ATL-IP-QA-0007): Assembly & Test FDR + Support Tube PRR (18-19/2/03) BiStave Integration: La procedura di assemblaggio dei 2 stave è una procedura manuale. I tool devono prevenire il possibile contatto tra i due stave.
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Pixel Status Report G. Darbo - INFN / Genova Roma, 23-24 Giugno 2003 20 Assembly e Test del Rivelatore (2) HSA - Half Shell Assembly Tool Questo tool permette di montare i bi-stave per realizzare un half shell. L’half shell può essere ruotata in modo che il bistave in fase di montaggio sia orizzontale. I servizi sono supportati da 2 estensioni. STT - Shell Transfer Tool Serve per il montaggio (HSA) e survey dei bi-stave. Trasporto dell’half shell Assemblaggio di 2 half shell nel full shell.
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Pixel Status Report G. Darbo - INFN / Genova Roma, 23-24 Giugno 2003 21 Assembly e Test del Rivelatore (3) ITT - Integration & Testing Tool (Milano) Questo tool permette l’assemblaggio delle shell e dei dischi del rivelatore. Il progetto iniziale è stato modificato estendendolo da 7 a 10 metri. Il progetto presentato alla CSN1 del 6/02 con costo stimato di 37 k€. Finanziati 10 k€ (5/02) + 30 k€ (1/03). Tale somma entra nei C2C. Il costo ha subito un aumento di ~8 k€ dovuto all’aumento delle funzionalità dello strumento. Si richiede contributo di 5 k€. ITT - Integrazione di: layer 1 & 2 Disk sectors B_layer half shells Barrel frame Beam pipe Service pannels
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Pixel Status Report G. Darbo - INFN / Genova Roma, 23-24 Giugno 2003 22 Meccanica Primi 9 stave completati (TMT, Omega, tubo in Al, terminali) dalla Playform, misure entro le specifiche. Robot per il montaggio dei moduli sugli stave in qualificazione a Genova. Altri 2 robot in costruzione a Marsiglia e Wuppertal.
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Pixel Status Report G. Darbo - INFN / Genova Roma, 23-24 Giugno 2003 23 Test Beam: Programma 2003 Run maggio: misure con fascio con bunch a 25 ns. Risultati in fase d’analisi. Messa in opera DAQ-1. Spostato l’apparato sulla linea del fascio di NA45. Dal 28/8 fascio ad alta intensità: misure “LHC like”, studio effetti di SEU su elettronica. Programma SPS allungato di 3 settimane (8-13/09 combined run, 13-20/9 in trattativa per i pixel) Fascio alta intensità Estensione
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Pixel Status Report G. Darbo - INFN / Genova Roma, 23-24 Giugno 2003 24 Irraggiamento al PS PeriodoProgramma: 1.19-5/4-6Test 7 moduli DSM1 2.23/7-7/8Optoelectronics o MCC-I2 (FE-I2?) 3.20/8-3/9FE-I2.1 asembly 4.8/10-20/10FE-I2 Moduli (high int.beam) 5.NovembreDa definire Test di Maggio: 7 Moduli irraggiati: 4 CiS e 3 Tesla T = -7º, dose accumulata 30 Mrad. Correnti di leakage alla fine dell’irraggiamento ~ 1000 µA/modulo (comportamento simile CiS e Tesla) Moduli sono in fase di caratterizzazione alla fine dell’irraggiamento. I rivelatori Tesla che nella prima produzione avevano mostrato noise non accettabile sono ora qualificati per la produzione la produzione può riprendere Il test compiuto con regolatori ST (LV) e ISEG (HV).
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Pixel Status Report G. Darbo - INFN / Genova Roma, 23-24 Giugno 2003 25 Produzione Update Meccanica: Tutte le strutture globali sono state prodotte e hanno passato la qualifica La produzione di stave è cominciata quest’anno, presto dovremo ricevere il terzo batch di 50 stave Sensori: CiS ha fornito 617 tiles / 588 buoni (154 caratterizzati a Udine) Tesla ha fornito 107 tiles / 42 accettati Produzione riprenderà Flex: 1000 consegnati (ottima qualità), 50 montati con componenti SMD (danneggiati da attacco chimico per pulizia), altri 50 mandati a montare i componenti
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Pixel Status Report G. Darbo - INFN / Genova Roma, 23-24 Giugno 2003 26 Milestone Il maggior ritardo è legato all’elettronica DSM2 che si trova sul critical path del rivelatore
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Pixel Status Report G. Darbo - INFN / Genova Roma, 23-24 Giugno 2003 27 Finanziamenti CORE La tabella presenta il core assegnato fino ad oggi. La colonna approvato è la parte restante della gara pluriennale per il BB (ridotto di 65 k€ a gara conclusa). Lo staging del layer 1 del rivelatore è sottratto (655 k€) L’IVA non è stata completamente tolta (alcune assegnazioni su item acquistati in Italia includevano l’IVA nel conteggio del CORE)
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