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PubblicatoBartolommeo Floris Modificato 10 anni fa
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Misura del coefficiente di attenuazione di un materiale
Astrik Gorghinian
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Interazione radiazione-materia
L’interazione radiazione-materia dipende principalmente da: tipo di radiazione (carica, massa, …) tipo di materiale (numero atomico, densità, …) energia della radiazione In particolare, i fotoni nella materia sono soggetti a: Assorbimento Diffusione
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Processi di Assorbimento
Effetto fotoelettrico: interazione con gli elettroni atomici Creazione di coppie: interazione con i campi elettrici delle cariche circostanti Reazioni fotonucleari: interazione con i nucleoni Fotoproduzione di mesoni: interazione con i mesoni
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Processi di diffusione
Elastica coerente sull’atomo (Rayleigh) Elastica sull’elettrone (Thomson) Anelastica incoerente (Compton)
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Raggi X (RX) e Raggi gamma (Rg) di energia fino a diversi MeV interagiscono con la materia attraverso: Effetto fotoelettrico Diffusione elastica Diffusione anelastica
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Rispetto ad un fascio di particelle cariche i RX (o Rg):
Sono più penetranti (interagiscono con minor probabilità) Vengono rimossi dal fascio (il fascio si attenua, ma l’energia dei fotoni rimasti è invariata)
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Effetto fotoelettrico
Nell’effetto fotoelettrico un fotone di energia Eo = hn viene assorbito da un elettrone (e-) atomico di energia di legame EL con conseguente sua espulsione dall’atomo con energia cinetica Ek = hn - EL
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L’effetto fotoelettrico coinvolge gli e- legati
→ il nucleo acquista la differenza della quantità di moto tra il fotone assorbito e l’e- espulso La probabilità di produrre l’espulsione dell’e- è proporzionale a Zn(E0) e decresce come Eo-3 per Eo > EL → alti Z e basse Eo (< 0.5 MeV) sono quindi favoriti Espulsione e- → atomo in stato eccitato → atomo ritorna allo stato fondamentale → emissione di un fotone X Sia il fotoelettrone che i RX caratteristici sono assorbiti dal mezzo in cui si è prodotto l’effetto
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Diffusione anelastica (effetto Compton)
Questa interazione coinvolge il fotone incidente di energia Eo ed un e- libero ovvero con energia EL << E0.
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L’energia del fotone diffuso risulta essere:
(y angolo di diffusione) La diffusione Compton è dominante tra 0.5 e 4 MeV circa La probabilità che si abbia l’effetto è proporzionale a Z e inversamente proporzionale a Eo
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Diffusione elastica (Rayleigh e Thomson)
Diffusione Thomson: un e- libero diffonde il fotone incidente nel limite classico Diffusione Rayleigh: l’atomo nel suo insieme diffonde il fotone incidente, in questo processo tutti gli e- contribuiscono in modo coerente → risultato: variazione della direzione del fotone incidente invarianza di Eo
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Produzione di coppie Energia fotone Eo ≥ 2 mec2 (1.022 MeV)
Interazione fotone-nucleo atomico → coppia (e– , e+) Energia cinetica (e– , e+) = Eo - 2 mec2 Questa energia viene spesa per ionizzare ed eccitare gli atomi del mezzo: e+ si combina con un altro e- annichilendosi (si formano due fotoni) e- viene catturato da un atomo o del reticolo cristallino La probabilità della produzione di coppie è proporzionale a Z2 e al lnEo
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Coefficiente di attenuazione di un materiale
Un campione di un dato spessore x e densità r, quando viene irradiato da una sorgente di fotoni monoenergetici di intensità Io, trasmette una quantità di radiazione pari a I(x) secondo la legge: valida in condizioni di buona geometria m(r,Z,Eo): coefficiente di attenuazione lineare
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Buona Geometria collimatore collimatore sorgente rivelatore campione x
Si deve garantire che lo spessore attraversato sia quello ipotizzato
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Misura Sperimentale del Coefficiente di attenuazione
Due configurazioni: con e senza campione campione I0 I
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Coefficiente di attenuazione di massa
→ È indipendente dalla densità del materiale (xr: massa per unità di area) Se il campione è composto da i elementi presenti nella frazione in peso w, allora:
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Apparato sperimentale
Diverse sorgenti radioattive (Cu, Rb, Mo, Ag, Ba, Tb attivate dall’Am241) che emettono radiazione di energia nota (tipicamente da circa 8 keV a 60 keV) Un campione di spessore e densità noti Un rivelatore a semiconduttore Si(Pin) raffreddato per effetto Peltier Un amplificatore Un analizzatore multicanale MCA Sistema di acquisizione ed elaborazione dati
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Sorgente primaria di RX
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Apparato di Misura XR-100CR (rivelatore) Alimentatore ed Amplificatore
alimentazione XR-100CR (rivelatore) Alimentatore ed Amplificatore del segnale segnale MCA (analizzatore multicanale) PU gate Dati digitali
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Esempio di uno spettro ottenuto con l’apparato descritto
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Esecuzione dell’esperimento
Scelta della sorgente Misura della intensità del fascio emesso dalla sorgente Io Misura della intensità del fascio I trasmesso dal campione Calcolo di m/r Calcolo dell’errore statistico s(m/r) = 1/(xr) ((sIo/Io)2+(sI/I)2)1/2 (supponiamo trascurabili gli errori su x e r) Confronto con i dati tabulati (teorici)
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Il software associato all’esperimento fornisce:
la misura dell’intensità del fascio attraverso i conteggi N rivelati per ogni picco d’interesse L’incertezza sui conteggi sN/N calcolata in percentuale Poiché sN% è proporzionale 1/(t)1/2 la scelta del tempo t di misura deve essere tale da ottenere sN% dell’ordine dell’ 1%.
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