Fondazione Bruno Kessler Centro materiali e microsistemi dott Fondazione Bruno Kessler Centro materiali e microsistemi dott. Massimo Bersani Micro and Nano Analytical Laboratory (MiNALab) Michele Moltrer Daniela Michelatti

Il Laboratorio MiNaLab si dedica principalmente all’analisi delle superfici organiche ed inorganiche nell’ambito della microelettronica e della nanotecnologia, al fine di dare supporto sia alle industrie ed ai laboratori di ricerca di tutto il mondo, sia alle attività di ricerca proprie del gruppo.

OBIETTIVI: Osservare il tipico procedimento di ricerca scientifica eseguito in un laboratorio; Capire il percorso di collaborazione lavorativa nell’ambito della ricerca; Approfondire le nostre conoscenze in chimica, fisica e biologia.

SEM Microscopio Elettronico a Scansione: Informazioni morfologiche Gennaro Salvatore

PROFILOMETRO Profilometro: grazie ad una punta che segue il profilo del campione, si possono ottenere informazioni morfologiche Barozzi Mario

XPS Spettroscopio fotoelettronico a raggi-X: informazioni chimiche C 1s O 1s Zn 2p O-Auger O-Auger N 1s Ca 2p Si, Zn S, Si, Zn S Vanzetti Lia Emanuela

XRD Diffrattrometro a Raggi X: sfruttando il fenomeno della diffrazione, si riescono ad ottenere informazioni riguardo al reticolo cristallino del campione. Bortolotti Mauro

L'esame della superficie mediante SEM con un basso ingrandimento rivela che la matrice sembra sia costituita da 3 fasi principali: a) La matrice vera e propria, di natura amorfa b) Fibre flessibili presumibilmente in cellulosa c) Fibre a maggior rigidità Lo spettro eseguito mediando su un’area contenente tutte e tre le fasi ha mostrato la presenza di, principalmente: C, N, O, S, Na, Ca, Cr, Zn, Si, Al e (in alcuni casi) Fe. Grazie all’utilizzo del Profilometro infine, abbiamo potuto constatare che il campione è di uno spessore di circa 373 µm, nonostante i problemi derivati dalla grande rugosità dello stesso. Con l’analisi XRD invece, anche se i dati sperimentali sono abbastanza problematici, abbiamo attribuito alle fibre di maggior rigidità una composizione in kevlar, ed alla matrice ed alle fibre più flessibili una natura amorfa di cellulosa.

SIMS (Damiano Giubertoni) Spettrometro di massa dinamico: informazioni di composizioni chimiche di superficie e in profondità (few nm – 10 μm) TOF (Salvatore Gennaro) Spettrometro di massa a tempo di volo: informazioni chimiche di superficie COMPUTAZIONE (Rossana Dell’Anna): riunire informazioni ricavate con gli strumenti per ottenere nuove conoscenze sul materiale analizzato