If na <P>2 na = n° of absorbed photons per molecule = two-photon cross-section 10-48 - 10-50 cm4 s photon-1 molec-1 p = pulse width 100 fs fp = pulse repetition rate 80 MHz NA = lens numerical aperture 1.2 – 1.4 <P> = average incident power 20mW
SPM: Scanning Probe Microscopy microscopia a scansione di sonda Una sonda, sensibile ad una certa grandezza fisica, saggia punto per punto una proprietà della superficie e ne crea un’immagine in modo sequenziale. Grandezze fisiche corrente di tunnel STM forze di contatto Van der Waals AFM elettrostatiche campo magnetico superficiale MFM conducibilità termica superficiale TSM densità ottica SNOM Risoluzione: occhio umano 100m microscopio ottico 0.2 m microscopio elettronico TEM 4 Å SEM 30 Å STM, AFM in zeta < 1 Å in xy ~ Å
Microscopio a forza atomica (AFM) G. Binnig, C.F. Quate, Ch. Geber, Atomic Force Microscope, Phys. Rev. Letters, 56 (1986), 930 Microscopio a forza atomica (AFM) Muovendo la punta sopra il campione, si misura il piegamento della piccola leva dovuto alle forze di interazione atomiche e molecolari. Si ottiene una immagine topografica della superficie. Il microscopio a forza atomica, il cui principio di funzionamento si potrà vedere in uno dei ‘giochi’ di questa mostra è illustrano nella slide: la levetta su cui viene posizionato lo spot di un laser che viene successivamente letto in un detector. La variazione della posizione del detector, unita al sistema di feedback ci da informazioni sulla rugosità della superficie. Segmento di DNA