Risultati degli irraggiamenti con neutroni e protoni Annunziata Sanseverino Università degli Studi di Cassino e del Lazio Meridionale
Irraggiamento con neutroni Lirraggiamento dei dispositivi è stato effettuato utilizzando il reattore Tapiro presso ENEA Casaccia. Dispositivi in Silicio: 72 Mosfet Dispositivi SiC: 12 Mosfet 12 Jfet
Dosi Tempo di irraggiamento: 4 ore (K) 27 ore (N-K) 31 ore (N) Neutroni 6 schede contenenti ciascuna 9 dispositivi Il valore della dose è legato alla posizione della scheda allinterno del reattore ed al tempo di permanenza del campione allinterno dello stesso. Fluenza 1MeV eq. su Si Per ciascuna tipologia di MOSFET sono state condotte prove a 4 diverse dosi irraggiando 3 campioni per ogni dose.
Mosfet in Si MOSFET da 30V: LR2703 (IR) LR7843 (IR) STP80N03L (STMicroelectronics) STP22N (STMicroelectronics) MOSFET da 200V: IRFB31N20 (IR) IRF630 (STMicroelectronics)
Misure effettuate Caratteristica Id-Vgs Caratteristica inversa Caratteristica ON Leakage di gate Tensione di soglia (ID=250uA) Tensione di breakdown (ID=10uA) Ron Misure condotte su dispositivi: Pre irraggiamento Pre annealing Post annealing Oltre 1000 forme donda
Elaborazione dei dati Si sono calcolati i parametri di interesse e rappresentati in funzione della dose di radiazione assorbita +
LR2703 IR 30V
LR7843 IR 30V
STP80N03L ST 30V
STP22N ST30V
IRFB31N20 IR 200V
IRF630 ST 200V
Dispositivi SiC Jfet SJEP120R100 SEMISOUTH 1200V Mosfet CMF10120D CREE 1200V DOSE 1: n/cm 2 DOSE 2: n/cm 2 DOSE 3: n/cm 2 DOSE 4: n/cm 2 12 dispositivi
Misure effettuate JFET Caratteristica ON Caratteristica Diodo Diretta Caratteristica Diodo Inversa Caratteristica Diodo per Vgs=0 MOSFET Caratteristica ON Leakage di gate Caratteristica Id-Vgs
JFET Pre irraggiamento Post
MOSFET Pre irraggiamento Post
Risultati dell irraggiamento con protoni
Dispositivi testati MOSFET Si 17 campioni IRF V (STMicroelctronics) 4 campioni IRFB31N20 200V (IR) Condizioni test: Vgs=-2V Vds=180V – 190V – 200V In queste condizioni i dispositivi sono stati esposti al fascio fino al verificarsi della rottura.
Risultati IRF630 IRFB31N20 VGS = -2V
Grazie per lattenzione