Materiale ad integrazione di quanto contenuto nei libri indicati nella bibliografia. Analisi XRF quantitativa R\C RBS

NUCLEAR METHODS APPLIED TO CULTURAL HERITAGE International Conference Roma-Venezia, May 24 –

Relative conc.

Analisi quantitativa radiazione di eccitazione monocromatica fascio collimato di raggi X incidente con un angolo 1 rispetto alla superficie del campione direzione di rivelazione che forma un angolo 2 rispetto alla superficie del campione campione omogeneo di spessore infinito rispetto allo spessore medio di penetrazione della radiazione incidente assenza di effetti di eccitazione secondaria

Schema di produzione di radiazione di fluorescenza primaria I raggi X incidenti giungono allo strato elementare dx posto a profondità x. Lo spessore dx è espresso come densità superficiale (gr/cm 2 )

Relazione fra intensità I i della radiazione X caratteristica emessa dagli atomi dellelemento i contenuti nel campione e la concentrazione c i dellelemento stesso i Coefficiente di assorbimento totale per la radiazione incidente Coefficiente di assorbimento totale per la radiazione caratteristica emessa dallelemento i

Valore di intensità da un campione puro dello stesso elemento i nelle stesse condizioni di misura

G: (gross area) somma dei conteggi nellintervallo selezionato. N: (net area) somma dei conteggi netti nellintervallo considerato. Bl: (Background left) area del fondo a sinistra utilizzata per determinare lestremo sinistro del fondo. Br: (Background right) area del fondo a destra utilizzata per determinare lestremo destro del fondo. I due estremi sono poi interpolati da una retta. N: numero di canali coperto dal picco. n: altezza del fondo. N Intensità

Greek Gold Coins VII-VI B.C.

(C) (R)

Counts/sec (10 3) Ag Cu C C R R Counts/sec (10 3) KeV

Spettro di un vetro

Quantitative Analysis of Glasses by using Compton scattering i ha lo stesso valore per tutti gli elementi leggeri

Elemento Valori sperimentaliValori certificati dalla Stazione Sperimentale del vetro Sr ppm - Pb % 6.88% As ppm 1200 ppm Zn ppm - Cu ppm 70 ppm Ni ppm 4100 ppm Co ppm 520 ppm Fe ppm (*) 340 ppm Mn ppm 2050 ppm Ba % 2.50 % Ca % 2.85 % K % 8.38 % Analisi quantitativa di vetri (Metodo Compton) STANDARD P66 Anodi secondari impiegati: Ge, Mo.

Principi dellanalisi RBS (Rutherford Back Scattering) In una collisione elastica di una particella del fascio con un nucleo del bersaglio la particella viene deflessa Per collisioni all indietro con nuclei di una data massa M, lenergia della particella retrodiffusa è tanto più piccola quanto maggiore è la massa del nucleo urtato

Curve attivazioee

Simulazione di spettro RBS ottenuto con alfa da 3 MeV su un campione spesso Bulk di Cu ricoperto con doratura di 1 m di spessore = 170°, risoluzione 15 keV FWHM Dalla larghezza del picco delloro si determina lo spessore della doratura (in quanto il dE/dx è noto)