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Ischia, 21-23 giugno 2006Riunione Annuale GE 2006 Sviluppo di un sistema di misura per la caratterizzazione rf di dispositivi e circuiti in regime continuo.

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Presentazione sul tema: "Ischia, 21-23 giugno 2006Riunione Annuale GE 2006 Sviluppo di un sistema di misura per la caratterizzazione rf di dispositivi e circuiti in regime continuo."— Transcript della presentazione:

1 Ischia, giugno 2006Riunione Annuale GE 2006 Sviluppo di un sistema di misura per la caratterizzazione rf di dispositivi e circuiti in regime continuo e impulsato Fabrizio Tamigi, Niccolò Rinaldi e Paolo Spirito Misure isotermiche su dispositivi attivi e reti per radiofrequenza P OLO DELLE S CIENZE E DELLE T ECNOLOGIE Dipartimento di Ingegneria Elettronica e delle Telecomunicazioni

2 Ischia, giugno 2006Riunione Annuale GE 2006 Obiettivo del progetto Sviluppo di una sistema completo per misure rf avanzate a partire da singoli strumenti commerciali e da sottosistemi realizzati in proprio Il sistema di misura è unico nel genere Per misure rf avanzate si intende la possibilità di effettuare la caratterizzazione in termini di parametri di reti, in regime continuo e impulsato, al fine di esplicitare la dipendenza dalla temperatura

3 Ischia, giugno 2006Riunione Annuale GE 2006 Schema del sistema di misura

4 Ischia, giugno 2006Riunione Annuale GE 2006 Risultati delle misure Confronto dc vs impulsato

5 Ischia, giugno 2006Riunione Annuale GE 2006 Conclusioni È stato realizzato un innovativo sistema di misura per la caratterizzazione rf in temperatura di dispositivi e reti Sono previste attività di modeling e simulazione, nonché ulteriori misure su dispositivi con effetti elettrotermici di maggiore entità (e.g., GaAs) Siete invitati a discutere i dettagli durante la sessione poster Grazie per lattenzione


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