Analisi in aria di un dipinto mediante strumentazione PIXE 1.7
Acceleratore installato nei Laboratori LABEC del dipartimento di Fisica dell’Università di Firenze 2.7
Fascio di protoni in aria3.7
Analisi in aria con fascio di protoni focalizzato4.7
Analisi PIXE di rocce su Marte5.7
XRF PIXE Rappresentazione della equivalenza tra analisi PIXE e XRF 6.7
Confronto sezione d’urto ionizzazione fra XRF e PIXE 7.7
Confronto fra XRF, PIXE e SEM8.7
Confronto del valore m.d.l. per analisi PIXE e XRF 9.7
Ampiezza dei segnali e confronto con il fondo10.7 PIXE XRF
Spettro di elettroni secondari Distribuzione dell’energia degli elettroni secondari prodotti da protoni di 3 MeV su bersaglio di calcio Capitolo
Dipendenza della sensibilità dall’energia dei protoni e da Z 12.7
Esempio della possibilità di discriminazione offerto dalla tecnica PIXE 13.7 Capitolo 5
Schema del processo PIXE14.7
Si ottiene cioè dove si è definito PIXE (spessori sottili)15.7
PIXE per spessori elevati Si ottiene Ponendo si ha infine 16.7
Resa della fluorescenza K α per spessore infinito17.7 Capitolo 5
E p0 è l’energia cinetica iniziale; Uè l’energia di legame dell’elettrone. Condizioni energetiche per il modello BEA Si hanno le energie dove Quindi 18.7 Capitolo 5
Condizioni cinematiche del protone e dell’elettrone nel modello BEA 19.7
Correzioni al modello BEA dall’ipotesi di doppio urto 20.7
Modelli teorici per la sezione d’urto di ionizzazione con ioni 21.7 Capitolo 5
Apparato sperimentale per misure PIXE22.7 Capitolo 5
Misure sperimentali PIXE23.7 Capitolo 5
Misure sperimentali PIXE (protoni p e ioni di elio α ) 24.7 Capitolo 5
Misure sperimentali PIXE. Ricerca della soglia 25.7 Capitolo 5
Misure PIXE. Confronto fra protoni e deutoni26.7 Capitolo 5