Impegno del gruppo di Napoli per NEMO-RD -Test elettronica di piano (funzionamento, controllo qualita’, calcolo affidabilita’) -Implementazione di elettronica rivolta all’acquisizione e trasmissione dati -partecipazione all’integrazione dei piani per le fasi 1 e 2. -progettazione realizzazione meccanica di componenti necessari all’integrazione nellefasi 1 e 2. -algoritmi di trigger e simulazioni (nuovo) (prof. Longo).(non conteggiato in FTE) +collaborazione di A.Aloisio (P.A) e F.Cevenini (P.O.) gruppo 5/NA exp. Dream: ottimizzazione Link ottici sincroni con applicazione a NEMO-RD

Controllo Qualità e Calcolo di Affidabilità per l’elettronica di NEMO fase1, fase 2 & KM3 Test da effettuare sull’elettronica esistente (FE, FCM, Slow control …) Qualifica (spec. MIL 883) Guasti infantili: Termografia Test termici in camera climatica Test di vibrazione Calcolo Affidabilità (spec. MIL 217F) Guasti casuali tempo di vita dei dispositivi

Test termici (termografia) Qualifica Test termici (termografia) TX @ 51.5C 20 C 60 C PCB @ ~40C I2C Probe @ 54.5C RX @ 58C Analisi termografica dell’elettronica (ricerca di hot spot)

LDO @ 40.6C LDO @ 33C DWDM @ 26C 60 C 20 C

Test termici (camera climatica) Qualifica Test termici (camera climatica) Elettronica sottoposta a cicli termici standard e controllata attraverso sensori (mortalità componenti)

Qualifica:Test vibrazionali Elettronica sottoposta a cicli di vibrazione standard e controllata attraverso accelerometri (test montaggio componenti) Test completo: termico----vibrazioni----termico

Calcolo tempo di vita medio dei componenti Calcolo affidabilità Test termici e vibrazionali Calcolo tempo di vita Calcolo tempo di vita medio dei componenti

Elettronica di nuova concezione Test da effettuare durante lo sviluppo con feedback sul progetto In fase di realizzazione: Test termografici Test termici Test vibrazione In fase di progettazione: Test FMECA Calcolo affidabilità

Napoli In NEMO -Giancarlo Barbarino (P.O.) -Davide De Caro (Assegnista) -Napoli Ettore (P.A.) -Giuseppe Osteria (ricercatore INFN) -Stefano Russo (dottorando) -Petra Nicola (Dottorando) -Antonio Strollo (P.O.) totale 4.3 FTE + …. nuovo: Giuseppe Longo (P.A.) Massimo Brescia (ricercatore) Antonino Staiano (assegnista)

Richieste integrative 2005 Per continuare collaborazione In NEMO: M.I.: 10 keuro Consumo: 12 keuro

Materiale inventariabile NEMO-RD/Napoli I due strumenti che si intendono acquistare (telecamera a raggi infrarossi e camera climatica) permettono di migliorare notevolmente l’affidabilita’ dei circuiti elettro- nici soprattuto quando in condizioni di inaccessibilita’, ed e’ il caso di NEMO, venga richiesta una alta affidabilita’. Il primo, prodotto dalla ditta AGEMA permette di fare immagini termografiche di un circuito elettronico e relativi componenti allo scopo di individuare le regioni di maggiore riscaldamento e quindi ottimizzare il progetto riducendo i rischi di rotture. La camera climatica permette di effettuare test di funzionamento di circuiti elettronici in diverse condizioni di temperatura dell’ambiente circostante. permette inoltre di fare test di invecchiamento precoce (burn-in), verificando l’eventuale rottura dei componenti nelle prime ore di funzionamento. Questi test vengono effettuate secondo standard e protocolli internazionali (MIL/NASA). Gli strumenti descritti consentiranno di fare sull’elettronica di NEMO test di affidabilita’ seguendo quei protocolli tipici di alta affidabilita’ per ambienti ostili dove l’intervento umano si rende impossibile (spazio, profondita’marine).