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SISTEMA DI ACQUISIZIONE E DISTRIBUZIONE DATI
Informatica Generale Susanna Pelagatti
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ASIC per TOF-PET: caratteristiche generali
FACOLTA’ DI INGEGNERIA
Esperienze di laboratorio “leggero” in aula
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Guasti dei circuiti VLSI. Alcune cause di guasto Elettromigrazione Self-Heating Portatori caldi Rottura degli ossidi Latch-up Total Ionizing Dose Single.
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