Una serie di domande senza … risposta !

Presentazione sul tema: "Una serie di domande senza … risposta !"— Transcript della presentazione:

1 Una serie di domande senza … risposta !
.... Quale Rivelatore ? .... Quale tensione di accelerazione ? .... Quale spot-size ? .... Quale distanza di lavoro ? .... Quale apertura finale ? Corso di Microscopia Elettronica a Scansione P.L. Fabbri – M. Tonelli

2 Corso di Microscopia Elettronica a Scansione
… Quale rivelatore ? SED BSD Si K SED - BSD Al K SED + BSD Corso di Microscopia Elettronica a Scansione P.L. Fabbri – M. Tonelli

3 Corso di Microscopia Elettronica a Scansione
.... Quale HT ? Nasconde morfologia superficiale Danni da irraggiamento Maggiori effetti di bordo Maggiore accumulo di carica Alta risoluzione HT Rivela morfologia superficiale Meno danni da irraggiamento Minori effetti di bordo Riduce accumulo di carica Bassa risoluzione Corso di Microscopia Elettronica a Scansione P.L. Fabbri – M. Tonelli

4 Corso di Microscopia Elettronica a Scansione
HT - Morfologia superficiale .... Quale HT ? SED 25KV SED 5KV Corso di Microscopia Elettronica a Scansione P.L. Fabbri – M. Tonelli

5 Corso di Microscopia Elettronica a Scansione
… Quale spot size ? Migliore S/N ( Immagini piu’ nitide ) Bassa risoluzione Maggiori danni da irraggiamento Probe Current Alta risoluzione Meno danni da irraggiamento Peggiore S/N ( Immagini meno nitide ) Corso di Microscopia Elettronica a Scansione P.L. Fabbri – M. Tonelli

6 Corso di Microscopia Elettronica a Scansione
Spot 6 Miglior risoluzione ?? SPOT > Ip > S/N >>> Peggioramento della qualita’ della immagine Slow Scan Spot 3 Corso di Microscopia Elettronica a Scansione P.L. Fabbri – M. Tonelli

7 Correzione dell’astigmatismo
Astigmatismo parzialmente corretto. Solo secondo la direzione verticale Astigmatismo corretto. Lo spot e’ simmetrico nelle due direzioni. Astigmatismo parzialmente corretto. Solo secondo la direzione orizzontale Corso di Microscopia Elettronica a Scansione P.L. Fabbri – M. Tonelli

8 Corso di Microscopia Elettronica a Scansione
Massima risoluzione ? Minimo Spot Size Peggiore S/N possibile 0.5 µm. E’ necessario lavorare in scansione lenta su una piccola porzione della immagine …. Fuoco - Astigmatismo Astigmatismo - Fuoco … per poi procedere alla acquisizione o alla fotografia usando una velocita’ di scansione sufficientemente bassa. 0.5 µm. Corso di Microscopia Elettronica a Scansione P.L. Fabbri – M. Tonelli 0.5 µm.

9 … Quale distanza di lavoro ?
Bassa risoluzione Maggiore profondita’ di campo WD Alta risoluzione Minore profondita’ di campo Corso di Microscopia Elettronica a Scansione P.L. Fabbri – M. Tonelli

10 Corso di Microscopia Elettronica a Scansione
WD WD: 9mm. WD WD: 31mm. Corso di Microscopia Elettronica a Scansione P.L. Fabbri – M. Tonelli

11 … Quale diaframma finale ?
Alta corrente sul campione Miglior rapporto S/N ( Immagini pu’ nitide ) Bassa risoluzione Minore profondita` di campo Diaframma Finale Alta risoluzione Maggiore profondita` di campo Bassa corrente sul campione Peggiore S/N ( Immagini meno nitide ) Corso di Microscopia Elettronica a Scansione P.L. Fabbri – M. Tonelli

12 Corso di Microscopia Elettronica a Scansione
WD APT= 600µm. WD APT= 100µm. Corso di Microscopia Elettronica a Scansione P.L. Fabbri – M. Tonelli

13 Corso di Microscopia Elettronica a Scansione
Effetti di bordo Corso di Microscopia Elettronica a Scansione P.L. Fabbri – M. Tonelli

14 Corso di Microscopia Elettronica a Scansione
Effetti di bordo - Rimedi - 25 KV Tilt=30 2 KV Tilt=30 25 KV Tilt=0 Solo la riduzione della energia degli elettroni permette di ridurre fino ad eliminare gli effetti di bordo. Anche il charge-up e’ ridotto Variando il tilt possono essere ridotti gli effetti di bordo Corso di Microscopia Elettronica a Scansione P.L. Fabbri – M. Tonelli

15 Corso di Microscopia Elettronica a Scansione
Accumulo di carica Rimedi - NO SI campioni massivi E’ buona norma verificare il corretto metodo do fissaggio del campione al supporto, prima di ricorrere ad “abbondanti metallizazioni “. E’ importante effettuare tentativi con diversi metodi e materiali di fissaggio. fibre NO SI polveri Corso di Microscopia Elettronica a Scansione P.L. Fabbri – M. Tonelli

16 Danni da irraggiamento Corso di Microscopia Elettronica a Scansione
La perdita di energia degli elettroni primari produce calore che, se non adeguatamente dissipato, puo’ danneggiare il campione. Il danno dipende fortemente da : HT e corrente Area scandita Tempo di scansione Conducibilita’ termica I campioni piu’ sensibili sono i polimeri e i campioni biologici in genere a causa della loro bassa conducibilita’ termica PRECAUZIONI Abbassare la HT e la corrente Aumentare l’ area scandita Ridurre il tempo di scansione Aumentare lo spessore della metallizzazione Se, possibile, effettuare la ottimizzazione della immagine in un campo contiguo a quello di interesse. Corso di Microscopia Elettronica a Scansione P.L. Fabbri – M. Tonelli

17 Corso di Microscopia Elettronica a Scansione
BSD / SED / HT - informazioni di bulk SED 25Kv SED 12Kv BSD 25Kv BSD 12Kv Corso di Microscopia Elettronica a Scansione P.L. Fabbri – M. Tonelli

18 La qualita’ del risultato dipende da …..
Condizioni generali dello strumento Scelta opportuna del campione Corretta preparazione del campione Scelta delle condizioni operative piu’ opportune per : Ottenere le informazioni volute Ridurre gli effetti di disturbo indesiderati BSD ? Kv !?! 2 Kv ???? SED ? HELP !!!!

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